Ettevõtluskoostöö

Uute materjalide valmistamine.

Näited: hapnikukindla kilepakendi väljatöötamine toiduainete pakendamiseks (koostöös firmaga Estiko Plastar AS), puidupahtli väljatöötamine (koostöös firmaga UPM-Kymmene Otepää OÜ).

Kontakt: Dr. Kristjan Saal (kristjan.saal@ut.ee)

Õhukeste materjalikihtide sadestamine erinevatele aluspindadele kasutades erinevaid sadestustehnikaid näiteks elektronkiir aurustamine, magetrontolmustamine, vaakumaurustamine, aatomkihtsadestamine ja lasersadestus.

Näited: kaitsekatted (Linde Gas OÜ, GScan) ja adsorberkihid (CRYSTALSOL OÜ). Õhukeste pinnakatete valmistamine lasersadestusega raskesti aurustatavatest või keeruka koostisega materjalidest.

Kontakt: Dr. Aile Tamm (aile.tamm@ut.ee), Dr. Margus Kodu (margus.kodu@ut.ee)

Pindade keemilise aktiivsuse tõstmine või passiveerimine külmas plasmas tekkivate reaktiivsete osakeste abil. Pindade ja meditsiiniliste instrumentide desinfitseerimine plasma abil.

Näited: puidu ja plastikute pinna märgavuse ja värviga katvuse parandamine plasmatöötlusega.

Kontakt: Dr. Indrek Jõgi (indrek.jogi@ut.ee)

Materjalide koostisuuringuid ja omaduste mõõtmisi tehakse mitmetes laborites ja erinevate meetoditega. Konkreetse rakenduse jaoks sobilikuima meetodi leidmiseks soovitame eelnevalt laborite esindajatega läbi rääkida.

• Läbivalgustava või skaneeriva elektronmikroskoobiga (STEM ja SEM) materjalide nanostruktuuri uurimine. Võimalik on määrata elemendilist koostist röntgenspektroskoopiaga (EDX).
• Tahkete ainete, näiteks maavarade ning ehitusmaterjalide struktuuri ja keemilise koostise uurimine röntgendifraktomeetriliste (XRD) ja spektromeetriliste (XRF) meetodite abil. Meetodid võimaldavad analüüsida ja visualiseerida materjalide struktuuris tekkivaid defekte, materjali koostisesse kuuluvate (nano)kristallide mõõtmeid, materjalide tihedust ja homogeensust.

Näited: pulbriliste nanomaterjalide karakteriseerimine (STEM, SEM) (NPM Silmet OÜ), päikesepaneelielementideks sobivate materjalide uurimine (STEM, XRD, XRF) (CRYSTALSOL OÜ); põlevkivituha uurimine (XRD, XRF) AS Kunda Nordic Tsement, lubjatoodete lähteainete faasilise koostise määramine (XRD, XRF) Saviukumaja OÜ.

Kontakt: Dr. Aile Tamm (aile.tamm@ut.ee)

• Laser-indutseeritud plasma spektroskoopia (LIBS) materjalide koostise määramiseks. Sobib praktiliselt kõigi materjalide jaoks, aga eriti mõne kindla elemendi kindlaks tegemiseks aines.

Näited: kergete elementide, H või Li määramine elektroonikas, mille jaoks muud kättesaadavad meetodid (näit. EDX) hästi ei tööta.

Kontakt: Dr. Indrek Jõgi (indrek.jogi@ut.ee)

• Materjalide mehaanilisete omaduste uurimine nanotasemel. Uuritav objekt võib olla metalli sulam, keraamilise/komposiitne materjal või polümeer, millest on valmistatud tasapinnaline ja siledapinnaline tükk mõõtudega - maksimaalselt 30 mm paksus ja 50 mm laius/pikkus. Määrata saab järgmisi materjalide omadusi: kõvadus; elastsusmoodul; roomavus; pinna/katte hõõrdetegur; pinna/katte kulumiskindlus; pinna/katte kriimustuskindlus; katte adhesioon alusega.

Kontakt: Dr. Taivo Jõgiaas (taivo.jogiaas@ut.ee)

Päikesepaneelide efektiivsuse mõõtmine, luminestsentsi mõõtmine, koostise ja struktuuri määramine. Päikesepaneelide läbilaskvus, neelduvus, peegeldus ja hajumiskarakteristikute mõõtmine. Suudame mõõta neid päikesepaneelide omadusi laias spektraalvahemikus (kuni 190-2800nm) ja seda erinevate nurkade (0-90°) ja polarisatsiooni korral.

Näited: Kesteriit (Cu₂ZnSn(Se,S)₄) paneelide karakteriseerimine  

Kontakt: Laurits Puust (laurits.puust@ut.ee), Dr. Siim Pikker (siim.pikker@ut.ee)

Valgusallikate kiirgusspektrite mõõtmine.

Näiteks steriliseerimiseks mõeldud UVC lampide ja taimekasvatuslampide kontrollimine. Kontakt: Laurits Puust (laurits.puust@ut.ee), Indrek Jõgi (indrek.jogi@ut.ee)

Klaaside läbilaskvus, neelduvus, peegeldus ja hajumiskarakteristikute mõõtmine. Suudame mõõta klaaside, kilede ja värvatete omadusi laias spektraalvahemikus (190-2800nm) ja seda erinevate nurkade (0-90°) ja polarisatsiooni korral.

Näiteid: päikeseprillide ja muude tumendavate/filtreerivate klaaside mõõtmine.

Kontakt: Laurits Puust (laurits.puust@ut.ee), Indrek Jõgi (indrek.jogi@ut.ee), Siim Pikker (siim.pikker@ut.ee)

Helkurite peegeldusomaduste kontrollimine.

Kontakt: Dr. Koit Mauring (koit.mauring@ut.ee)

Proovide karakteriseerimine optilise mikroskoobiga. Võimalik mõõta mikroskoopilise lahutusega valguse hajumise, peegelduse ja läbilaskvuse spektreid.

Kontakt: Dr. Siim Pikker (siim.pikker@ut.ee), Dr. Sven Lange (sven.lange@ut.ee)

Erinevate materjalide luminesentsomaduste (võime kiirata ja neelata erinevaid valguskiirguse liike) uuringud, mis võimaldavad määrata materjalide kvaliteeti, puhtust jm omadusi. Uuringuid viiakse läbi optilise spektroskoopia meetoditega (luminestsents, luminestsentsi ajaline käik, temperatuurisõltuvus, Raman-hajumine, hajumise nurksõltuvus). Lisaks suure tundlikkusega fluorestsentsmikroskoopia ning võimalus viia mõõtmisi läbi mikromeetrilise ruumilise lahutusega.

Dr. Sven Lange (sven.lange@ut.ee)

Kasutades COMSOL Multiphysics tarkvara lihtsamate ja keerukamate optiliste ja teiste elektromagnetiliste lainetega vastasmõjus olevate süsteemide numbriline modelleerimine ja nende optimeerimine. Suudame optilisi süsteeme disainida, optimeerida ja nende omadusi ette ennustada. Sobilik näiteks filtrite, peeglite, peegeldusvastaste kilede, resonaatorite, antennide, lainejuhtide, päikesepatareide, valgusdioodide, radari ja infrapuna varjestusstruktuuride jne projekteerimiseks ja modelleerimiseks. 

Kontakt: Siim Pikker (siim.pikker@ut.ee)

Pildid, videod, animatsioonid ja 3D rekonstruktsioonid mikroskoopidega kunsti ja disaini valdkonna jaoks. Võimalus koostööks ainulaadsete reklaami ja sisekukujunduslahenduste jaoks. 

Kontakt: Siim Pikker (siim.pikker@ut.ee)

Aerosooli arvulise konsentratsiooni määramine suurusvahemikus 0.5-10mikromeetrit või 5-500nm

Kontakt: Prof. Heikki Junninen (heikki.junninen@ut.ee)

Maskide õhupuhastamisvõime ja õhutakisuse testimine.

https://atmos.ut.ee/et/masks/testitellimine/

Kontakt: Prof. Heikki Junninen (heikki.junninen@ut.ee)

Õhupuhastite aerosoolse reostuse eemaldamise efektiivsuse määramine. Lisaks määratakse õhupuhasti võimsustarve ja müra ning osooni tootmine.

Kontakt: Prof. Heikki Junninen (heikki.junninen@ut.ee)

TÜ FI keskkonnafüüsika labor teostab TÜ Katsekoja koosseisus erinevaid radioaktiivsuse analüüse - mõõtame radioaktiivseid elemente veeproovides ja tahkes materjalis kasutades gammaspektromeetrilist analüüsi.

Lisainfo:http://www.katsekoda.ut.ee/radioaktiivsuse-anal%C3%BC%C3%BCsid-kiirgusm%C3%B5ju-hinnangud

Kontakt: Dr. Siiri Salupere (siiri.salupere@ut.ee)

Gaasisensorite testimine kontrollitud gaasikeskkondades ja gaasisensorite arendus.

Näited: grafeenil põhinevate gaasisensorite karakteriseerimine (Infineon Technologies AG)

Kontakt: Dr. Raivo Jaaniso (raivo.jaaniso@ut.ee)

Sensoritel põhinevad erilahendused värkvõrgule või tööstussüsteemidele. Konsultatsioonid.

Näited: kaalumissüsteem (Rait AS), lokaliseerimissüsteem (Proven OÜ, TMB Element OÜ)

Kontakt: Dr. Raivo Jaaniso (raivo.jaaniso@ut.ee)

Optiliste gaasi- või temperatuurisensorite karakteriseerimine (luminestsents või läbipaistvus/neeldumine/peegeldus, spektraalsed ja aeglahutusega mõõtmised).

Kontakt: Valter Kiisk (valter.kiisk@ut.ee)

Gaastäidise (Ar) olemasolu testimine aknapakettides ja ka muude gaastäidiste testimine läbipaistvates anumates.

Kontakt. Dr. Indrek Jõgi (indrek.jogi@ut.ee)

Seadmete ja ehitiste konstrueerimine ja täiustamine.
Näited: vaakumlamineerimisseadme konstrueerimine (Farrier OÜ), moodulmajade konstrueerimine (Teokarp Ltd.), aatomjõumikroskoobi konstrueerimine (Füüsika Instituut).

Kontakt: Dr. Kristjan Saal (kristjan.saal@ut.ee)