Kiletehnoloogia labor tegeleb õhukeste ja üliõhukeste materjalikihtide (tahkisekilede) valmistamiseks ja uurimiseks sobivate meetodite väljatöötamise ja täiustamisega, nende meetodite rakendamisega ning üliõpilaste koolitamisega selles valdkonnas. Uuritavate materjalide kasutusalad ulatuvad korrosioonivastastest pinnakatetest mikro- ja nanoelektroonikani.
Labori töötajate käsutuses on aparatuur tahkiskilede valmistamiseks elektronkiirega aurustamise, magnetrontolmustamise ja aatomkihtsadestamise meetodil, samuti grafeeni valmistamiseks keemilise aurufaassadestamisega. Kasutada on vahendid tahkisekilede moodustumise jälgimiseks reaalajas. Materjalide omadusi on laboris võimalik uurida röntgendifraktsiooni, röntgenpeegelduse, röntgenfluorestsentsi, elektronmikroskoopia, elektronsond-mikroanalüüsi, spektroskoopilise ellipsomeetria ja teravikmikroskoopia meetoditel. Samuti on kasutada elektriliste omaduste ja gaasitundlikkuse mõõtmise aparatuur.
Kiletehnoloogia laboris on
Kaupo Kukli laborijuhataja materjaliteaduse professor, PhD (rakendusfüüsika) E-post: kaupo.kukli@ut.ee Telefon: 737 4673 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C206 |
Aile Tamm materjaliteaduse kaasprofessor, PhD (tahkisefüüsika) E-post: aile.tamm@ut.ee Telefon: 737 4662 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C211 |
Hugo Mändar matejaliteaduse kaasprofessor, knd (füüsika-matemaatika) E-post: hugo.mandar@ut.ee Telefon: 737 5537 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C209 |
Harry Alles materjaliteaduse kaasprofessor, PhD E-post: harry.alles@ut.ee Telefon: 737 4658 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C206 |
Jaan Aarik emeriitprofessor, PhD (rakendusfüüsika) E-post: jaan.aarik@ut.ee Telefon: 737 4674 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C309 |
Väino Sammelselg emeriitprofessor, knd (füüsika-matemaatika) E-post: vaino.sammelselg@ut.ee Telefon: 737 4705 |
Aarne Kasikov materjaliteaduse teadur, PhD (rakendusfüüsika) E-post: aarne.kasikov@ut.ee Telefon: 737 4654,737 4656 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C307 |
Taivo Jõgiaas materjaliteaduse teadur, PhD (materjaliteadus) E-post: taivo.jogiaas@ut.ee Kabinet: W. Ostwaldi 1-C207 |
Jekaterina Kozlova elektronmikroskoopia teadur, PhD (materjaliteadus) E-post: jekaterina.kozlova@ut.ee Telefon: 737 4672 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C211 |
Kristjan Kalam materjaliteaduse teadur, PhD (materjaliteadus) E-post: kristjan.kalam@ut.ee Telefon: 737 5877 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C207 |
Jordi Muñoz Gorriz külalisteadur, PhD E-post: jordi.munoz.gorriz@ut.ee |
Helle-MaiPiirsoo materjaliteaduse nooremteadur, MSc (materjaliteadus) E-post: helle-mai.piirsoo@ut.ee Telefon: 737 4659 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C207 |
Joonas Merisalu tehnika ja tehnoloogia nooremteadur, MSc (arvutitehnika ja robootika) E-post: joonas.merisalu@ut.ee Kabinet: W. Ostwaldi 1-C207 |
Markus Otsus tehnika ja tehnoloogia nooremteadur, MSc (materjaliteadus) E-post: markus.otsus@ut.ee Kabinet: W. Ostwaldi 1-C207 |
Mahtab Salari Mehr materjaliteaduse nooremteadur, MSc (materjaliteadus) E-post: mahtab.salari.mehr@ut.ee |
Maido Merisalu insener, Phd (materjaliteadus) E-post: maido.merisalu@ut.ee Telefon: 737 4660 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C215 |
Aivar Tarre insener, MSc (rakendusfüüsika) E-post: aivar.tarre@ut.ee Telefon: 737 4614 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C308 |
Lauri Aarik insener, PhD (materjaliteadus) E-post: lauri.aarik@ut.ee Telefon: 737 4673, 737 4675 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C310 |
Kristina Raudonen laborant E-post: kristina.raudonen@ut.ee Kabinet: W. Ostwaldi 1-C07 |
Tauno Kahro insener, MSc (materjaliteadus) E-post: tauno.kahro@ut.ee Telefon: 737 4708 |
Raul Rammula insener, PhD (rakendusfüüsika) E-post: raul.rammula@ut.ee Telefon: 737 4673 |
Alma-Asta Kiisler insener E-post: alma-asta.kiisler@ut.ee Telefon: 737 4665 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C311 |
Peeter Ritslaid insener E-post: peeter.ritslaid@ut.ee Telefon: 737 4654 Kabinet: W. Ostwaldi 1-C208 |
Ivan Netšipailo insener, MSc (füüsikaline materjalitehnoloogia) |
Lii Urb laborant E-post: lii.urb@ut.ee |
Kaisa Aab spetsialist E-post: kaisa.aab@ut.ee Kabinet: W. Ostwaldi 1-C215 |
Toomas Daniel Viskus materjaliteaduse spetsialist E-post: toomas.daniel.viskus@ut.ee Kabinet: W. Ostwaldi 1-C320 |
2020-2024, Personaalse uurimistoetuse rühmagrant
TÜ poolne vastutav täitja prof. Kaupo Kukli
2020-2023, Personaalse uurimistoetuse stardigrant
TÜ poolne vastutav täitja dr. Lauri Aarik
Tugevalt frustreeritud kvantmagnetite adapteeruvad olekud (ENIQMA)
2018-2022, Personaalne uurimistoetuse rühmagrant PRG4, Sihtasutus Eesti Teadusagentuur
TÜ poolne vastutav täitja dr. Aile Tamm
Kontrollitud korrastatus kvant- ja nanomaterjalides (TK134)
2016-2023, Tippkeskused, SA Archimedes
TÜ poolne vastutav täitja dr. Aile Tamm
Gopinath. S.; Bleahu, A.; Kahro, T.; Rajeswary, A. S. J. F.; Kumar, R.; Kukli, K.; Tamm, A.; Rosen, J.; Anand, V. Scientific Reports 13 (2023) 7390; https://doi.org/10.1038/s41598-023-34492-2
Aarik. L.; Arroval, T.; Ritslaid, P.; Vask, A.; Mändar, H.; Aarik, J. Crystal Growth & Design 23 (1) (2023) 548−557; https://doi.org/10.1021/acs.cgd.2c01174
Piirsoo. H.-M.; Jõgiaas, T.; Kukli, K.; Tamm, A. Materials 16 (8) (2023) 3027; doi: https://doi.org/10.3390/ma16083207
Kahro. T.; Raudonen, K.; Merisalu, J.; Tarre, A.; Ritslaid, P.; Kasikov, A.;Jõgiaas, T.; Käämbre, T.; Otsus, M.; Kozlova, J.; Alles, H.; Tamm, A.; Kukli, K. Nanomaterials 13 (8) (2023) 1323; doi: https://doi.org/10.3390/nano13081323.
Jõgiaas. T.; Tarre, A.; Mändar, H.; Kozlova, J.; Tamm, A. Nanomaterials 12 (1) (2022) 82; doi: https://doi.org/10.3390/nano12010082.
Sokka, A.; Mooste, M.; Käärik, M.; Gudkova, V.; Kozlova, J.; Kikas, A.; Kisand, V.; Treshchalov, A.; Tamm, A.; Paiste, P.; Aruväli, J.; Leis, J.; Krumme, A.; Holdcroft, S.; Cavaliere, S.; Jaouen, F.; Tammeveski, K. International Journal of Hydrogen Energy 46 (61) (2021) 31275-31287; doi: https://doi.org/10.1016/j.ijhydene.2021.07.025.
González-Cordero, G.; González, M. B.; Zabala, M.; Kalam, K.; Tamm, A.; Jiménez-Molinos, F.; Campabadal, F.; Roldán, J. B. Solid-State Electronics (2021) 108034; doi: https://doi.org/10.1016/j.sse.2021.108034.
Lilloja, J.; Mooste, M.; Kibena-Põldsepp, E.; Sarapuu, A.; Zulevi, B.; Kikas, A.; Piirsoo, H.-M.; Tamm, A.; Kisand, V.; Holdcroft, S.; Serov, A.; Tammeveski, K. Journal of Power Sources Advances 8 (2021) 100052; doi: https://doi.org/10.1016/j.powera.2021.100052.
Piirsoo, H.-M.; Jõgiaas, T.; Mändar, H.; Ritslaid, P.; Kukli, K.; Tamm, A. AIP Advances 11 (5) (2021) 055316; doi: 10.1063/5.0047572.
Tamm, A.; Tarre, A.; Kozlova, J.; Rähn, M.; Jõgiaas, T.; Kahro, T.; Link, J.; Stern, R. RSC Advances 11 (13) (2021) 7521−7526; doi:10.1039/D1RA00507C.
Kalam, K.; Rammula, R.; Ritslaid, P.; Käämbre, T.; Link, J.; Stern, R.; Vinuesa, G.; Duenas, S.; Castán, H.; Tamm, A.; Kukli, K. Nanotechnology 32 (2021) 335703; doi: 10.1088/1361-6528/abfee9.
Kahro, T.; Tarre, A.; Käämbre, T.; Piirsoo, H.-M.; Kozlova, J.; Ritslaid, P.; Kasikov, A.; Jõgiaas, T.; Vinuesa, G.; Dueñas, S.; Castán, H.; Tamm, A.; Kukli, K. ACS Applied Nano Materials 4 (5) (2021) 5152−5163; doi: 10.1021/acsanm.1c00587.
Merisalu, M.; Aarik, L.; Kozlova, J.; Mändar, H.; Tarre, A.; Sammelselg, V. Surface and Coatings Technology 411 (2021) 126993; doi: 10.1016/j.surfcoat.2021.126993.
Image
|
Aatomkihtsadestamise seade; Picosun R200 Tootja: Picosun, Finland Tööstuslik plasmaergastusega aatomkihtsadestamise reaktor. Lähteainete ja protsesside valik piiratud (seotud seadme spetsiifikaga) ja põhiliselt sadestatakse metalloksiide näiteks HfO2, Al2O3 või TiO2 |
Image
|
Keemilise aurufaassadestamise seade Tootja: isetehtud Eriotstarbelised alarõhulised kvartsist reaktoriga seadmed üliõhukeste kilede sünteesiks |
Image
|
Metall- ja mittemetallkilede sadestamine Õhukeste kihtide sadestamise seadmed (elektronkiir, termiline, magnetron) |
Image
|
SmartLab difraktomeeter Tootja: Rigaku, Japan Multifunktsionaalne materjalide struktuuri uurimise röntgendifraktomeeter. Olemasolevad analüüsimeetodid: XRD, GIXRD,IP-XRD, HR-XRD, UHR-XRD, XRR, SAXS, GI-SAXS, HT-XRD |
Image
|
Röntgenfluoresents spektromeeter ZSX-400 Tootja: Rigaku, Japan Õhukeste kihtstruktuuride elementanalüüs |
Image
|
Sondijaamal Cascade Microtech MPS150 baseeruv mõõtekompleks Tootja: Beaverton, OR, USA Lisades sondijaamale lisamõõteseadmeid vastavalt soovile (näiteks voolu, pinge, mahtuvuse jne aparaadid) saab planaarsete objektide elektrilisi omadusi uurida. |
Image
|
Spektroskoopiline ellipsomeeter GES-5E Tootja: Semilab, Sopra Tasapinnaliste kihtstruktuuride paksuse ja murdumisnäitaja hindamiseks |